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CM-4簡易探針臺

CM系列探針臺可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等； 外形輕盈，操作方便，價格實惠；

CS-4小型探針臺

CS系列探針臺最大可用于6英寸以內樣品測試； 可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。

CL-6系列中端探針臺

CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動； 可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用

CH-8-D 雙面探針臺

CINDBESTCH-8-D雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。可廣泛應用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領域。